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Patent Information


Title
レオロジー特性を非接触で評価する方法およびシステム 
Author
Marie Tabaru, KENTARO NAKAMURA, Chuyi Wu.  
Kind
Patent 
Status
Registered 
Applicant
国立大学法人東京工業大学.  
Filing Date
2015/09/04
Application Number
特願2015-174296
Unexamined Application Date
2017/03/09
Publication Number
特開2017-049196
Registration Date
2019/06/07
Registration Number
特許第6534101号

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