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Patent Information


Title
界面破壊率測定装置、及び界面破壊率測定方法 
Author
CHIAKI SATO, Goh Matsuo, Yu Sekiguchi.  
Kind
Patent 
Status
Published 
Applicant
国立大学法人東京工業大学, 国立研究開発法人 物質・材料研究機構.  
Filing Date
2023/07/27
Application Number
PCT/JP2023/027482
Unexamined Application Date
2024/02/01
Publication Number
WO 2024/024870

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