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特許情報


発明の名称
試料の異常測定方法、および装置 
発明者
足立忠晴, 荒木稚子, 上小澤　孝弘, 小宮　廣志, 満丸　道敏.  
種別
特許 
状態
公開 
出願人
国立大学法人東京工業大学, 株式会社ジェイテクト.  
出願日
2007/09/07
出願番号
特願2007-233009
公開日
2009/03/26
公開番号
特開2009-063498

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