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特許情報


発明の名称
Ｘ線回折装置による格子面間隔の測定結果を解析する方法、装置およびプログラム 
発明者
春本高志, 史蹟, 中村吉男.  
種別
特許 
状態
公開 
出願人
国立大学法人東京工業大学.  
出願日
2020/03/17
出願番号
特願2020-046321
公開日
2021/09/27
公開番号
特開2021-148488

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