ホットスポットテストケースに用いられるデータベースの分析

Publication Information

Title

Japanese:	ホットスポットテストケースに用いられるデータベースの分析
English:	Analysis of databases used for hot spot test cases

Author

Japanese:	小椋弘貴, 高橋秀和, 佐藤真平, 高橋篤司.
English:	Hiroki Ogura, Hidekazu Takahashi, Shimpei Sato, Atsushi Takahashi.

Language

Japanese

Journal/Book name

Japanese:	電子情報通信学会技術研究報告
English:	Technical Committee on VLSI Design Technologies, IEICE Technical Report (VLD2019-52)

Volume, Number, Page

Vol. 119 No. 282 pp. 191-196

Published date

Nov. 2019

Publisher

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