X-ray Diffractometry and High-Resolution Electron Microscopy of Neutron-Irradiated SiC up to a fluence of 1.9×10<sub>27</sub>n/m<sub>2</sub>

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	X-ray Diffractometry and High-Resolution Electron Microscopy of Neutron-Irradiated SiC up to a fluence of 1.9×10₂₇n/m₂

著者

和文:	T. Yano, H. Miyazaki, M. Akiyoshi, T. Iseki.
英文:	T. Yano, H. Miyazaki, M. Akiyoshi, T. Iseki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Nuclear Materials.

巻, 号, ページ

Vol. 253 pp. 78-86

出版年月

1998年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: