Observation of Lattice Fringes of the Si(111)-7x7 Structure by Reflection Electron Microscopy.

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Observation of Lattice Fringes of the Si(111)-7x7 Structure by Reflection Electron Microscopy.

著者

和文:	Y.Tanishiro, K.Takayanagi, K.Yagi.
英文:	Y.Tanishiro, K.Takayanagi, K.Yagi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Microscopy

巻, 号, ページ

Vol. 142 No. 2 pp. 211-221

出版年月

1986年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
英文: