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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Improvement of Data Readout Disturbance Effect in 1T2C-Type Ferroelectric Memory Array 
著者
和文: HYUN-SOO KIM, SHUU'ICHIROU YAMAMOTO, HIROSHI ISHIWARA.  
英文: HYUN-SOO KIM, SHUU'ICHIROU YAMAMOTO, HIROSHI ISHIWARA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Integrated Ferroelectrics 
巻, 号, ページ Vol. 67        pp. 271-280
出版年月 2004年 
出版者
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会議名称
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開催地
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英文: 

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