「STM(走査トンネル顕微鏡)・AFM(原子間力顕微鏡)」, 固体表面キャラクタリゼーションの実際－ナノ材料に利用するスペクトロスコピー | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	「STM(走査トンネル顕微鏡)・AFM(原子間力顕微鏡)」, 固体表面キャラクタリゼーションの実際－ナノ材料に利用するスペクトロスコピー
英文:

著者

和文:	福井賢一.
英文:	福井賢一.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	固体表面キャラクタリゼーションの実際－ナノ材料に利用するスペクトロスコピー
英文:

巻, 号, ページ

pp. 124-137

出版年月

2005年

出版者

和文:	講談社サイエンティフィク
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

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