Electro-thermal analysis of interactions between Si MOSFETs in CMOS structures

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Electro-thermal analysis of interactions between Si MOSFETs in CMOS structures

著者

和文:	畠山友行, 伏信一慶, 岡崎健.
英文:	Tomoyuki Hatakeyama, K. Fushinobu, KEN OKAZAKI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Abstracts of Japan/US Joint Seminar on Nanoscale Transport Phenomena -Science and Engineering -

巻, 号, ページ

pp. 55

出版年月

2005年7月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Japan/US Joint Seminar on Nanoscale Transport Phenomena -Science and Engineering -

開催地

和文:
英文:	Matsushima