Electro-thermal Analysis of Interaction Between n-type and p-type MOSFET in Si CMOS

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Electro-thermal Analysis of Interaction Between n-type and p-type MOSFET in Si CMOS

著者

和文:	T. Hatakeyama, K. Fushinobu, K. Okazaki.
英文:	T. Hatakeyama, K. Fushinobu, K. Okazaki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Thermal Science and Engineering

巻, 号, ページ

Vol. 13 No. 5 pp. 25-32

出版年月

2005年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: