Transient Behavior of the Encoding/Decoding Circuits of Error Correcting Codes

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Transient Behavior of the Encoding/Decoding Circuits of Error Correcting Codes

著者

和文:	Jien-Chung Lo, Yu-Lun Wan, Eiji Fujiwara.
英文:	Jien-Chung Lo, Yu-Lun Wan, Eiji Fujiwara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. Int. Symp. on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems

巻, 号, ページ

pp. 120-128

出版年月

2005年10月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2005 IEEE Int. Symp. on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems

開催地

和文:
英文:	Montray USA