On the Complexity of Fault Testing for Reversible Circuits

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	On the Complexity of Fault Testing for Reversible Circuits

著者

和文:	Shigeru Ito, Yusuke Ito, Satoshi Tayu, Shuichi Ueno.
英文:	Shigeru Ito, Yusuke Ito, Satoshi Tayu, Shuichi Ueno.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Technical Report of the IEICE

巻, 号, ページ

Vol. 105 No. 387 pp. 13-16

出版年月

2005年11月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	電子情報通信学会回路とシステム研究会

開催地

和文:
英文:	山口大学