On the Complexity of Fault Testing for Reversible Circuits

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	On the Complexity of Fault Testing for Reversible Circuits

著者

和文:	Shigeru Ito, Yusuke Ito, Satoshi Tayu, Shuichi Ueno.
英文:	Shigeru Ito, Yusuke Ito, Satoshi Tayu, Shuichi Ueno.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of the 2005 IEICE Society Conference

巻, 号, ページ

No. A-1-26 pp. 26

出版年月

2005年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2005 IEICE Society Conference

開催地

和文:
英文: