Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Detection of a trace amount of impurities in smectic liquid crystals 
著者
和文: H. Ahn, A. Ohno, J. Hanna.  
英文: H. Ahn, A. Ohno, J. Hanna.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Proceedings of SPIE 5940 
巻, 号, ページ         pp. 5940-41
出版年月 2006年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:SPIE Optica and Photonics 
開催地
和文: 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.