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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Atomic force microscopy of histological sections using a new electron beam etching method 
著者
和文: 長田俊哉.  
英文: TOSHIYA OSADA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Microsc. 
巻, 号, ページ Vol. 189        pp. 43-49
出版年月 1998年 
出版者
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会議名称
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開催地
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