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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:On the modeling of electrons in thermo-electronic analysis of Si MOSFETs 
著者
和文: Fushinobu, K., Hatakeyama, T., Okazaki, K..  
英文: Fushinobu, K., Hatakeyama, T., Okazaki, K..  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Proc. 6th Electronics Packaging Tech. Conf 
巻, 号, ページ         pp. 259-263
出版年月 2004年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:6th Electronics Packaging Tech. Conf 
開催地
和文: 
英文: 

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