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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Sketch-based Fine-tuning of Image Segmentation Methods 
著者
和文: ガビラン ダビット, 高橋 裕樹, 齋藤 豪, 中嶋 正之.  
英文: David Gavilan, Hiroki Takahashi, Suguru Saito, Masayuki Nakajima.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IWAIT2006 
巻, 号, ページ         pp. 393-398
出版年月 2006年1月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:International Workshop on Advanced Image Technology 2006 (IWAIT2006) 
開催地
和文: 
英文:Okinawa 

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