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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Low-Density Triple-Erasure Correcting Codes for Dependable Distributed Storage Systems 
著者
和文: Hiroyuki Ohde, Haruhiko Kaneko, Eiji Fujiwara.  
英文: Hiroyuki Ohde, Haruhiko Kaneko, Eiji Fujiwara.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Proc. Int. Symp. on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 
巻, 号, ページ         pp. 175-183
出版年月 2006年10月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 
開催地
和文: 
英文:Washington DC 
DOI https://doi.org/10.1109/DFT.2006.42

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