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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Plasma Etching of TEM Samples for Obsevving Grain Boundaries in Silican Nitricle 
著者
和文: 末松久幸.  
英文: HISAYUKI SUEMATSU.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Journal of Electron Microscopy 
巻, 号, ページ Vol. 44        pp. 159-164
出版年月 1995年 
出版者
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会議名称
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開催地
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