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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Electrical Properties of Ferroelectric Gate HEMT structures 
著者
和文: 大見俊一郎.  
英文: SHUN-ICHIRO OHMI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:1995 International Conference on Solid State Devices and Materials 
巻, 号, ページ        
出版年月 1995年 
出版者
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会議名称
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開催地
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英文: 

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