Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:In Situ Reflection Electron Microscopy Study of Cu-induced Step Bunching on Si(111) Vicinal Surfaces 
著者
和文: H.Minoda, Y.Takahashi, Y.Tanishiro, K.Yagi.  
英文: H.Minoda, Y.Takahashi, Y.Tanishiro, K.Yagi.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Surface Sci. 
巻, 号, ページ Vol. 438        pp. 68-75
出版年月 1999年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.