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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Detection of Boron Segregation to Grain Boundaries in Silicon Carbide by Spatially Resolved Electron Energy-Loss Spectroscopy 
著者
和文: Hui GU, 篠田豊, 若井 史博.  
英文: Hui GU, YUTAKA SHINODA, Fumihiro WAKAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Am. Ceram. Soc. 
巻, 号, ページ Vol. 82    No. 2    pp. 469-472
出版年月 1999年 
出版者
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会議名称
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開催地
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