Reliable Logic Circuits with Byte Error Control Codes -- a Feasibility Study

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Reliable Logic Circuits with Byte Error Control Codes -- a Feasibility Study

著者

和文:	Jien-Chung Lo, Masato Kitakami, Eiji Fujiwara.
英文:	Jien-Chung Lo, Masato Kitakami, Eiji Fujiwara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of 1996 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems

巻, 号, ページ

pp. 286-294

出版年月

1996年

出版者

和文:
英文:	Proceedings of 1996 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: