Evaluation of 5500v-Class Si-Thyristor Power Switching Device Utilizing A Low Inductance Testing Circuit

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Evaluation of 5500v-Class Si-Thyristor Power Switching Device Utilizing A Low Inductance Testing Circuit

著者

和文:	Shinji Ibuka, Akira Yamamoto, Yoji Hironaka, Toshihiro Osada, Koichi Yasuoka, Shozo Ishii, Naohiro Shimizu.
英文:	Shinji Ibuka, Akira Yamamoto, Yoji Hironaka, Toshihiro Osada, Koichi Yasuoka, Shozo Ishii, Naohiro Shimizu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Conference Record of the 1998 Twenty-Third International Power Modulator Symposium

巻, 号, ページ

pp. 106

出版年月

1998年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: