Reliable logic Circuit with Byte Error Control Codes --A Feasibility Study

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Reliable logic Circuit with Byte Error Control Codes --A Feasibility Study

著者

和文:	Jien-Chung LO, Masato KITAKAMI, Eiji FUJIWARA.
英文:	Jien-Chung LO, Masato KITAKAMI, Eiji FUJIWARA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems

巻, 号, ページ

pp. 286-294

出版年月

1996年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
英文: