A Probabilistic Measurement for Totally Self-Checking Circuits

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A Probabilistic Measurement for Totally Self-Checking Circuits

著者

和文:	Jien Chung LO, Eiji FUJIWARA.
英文:	Jien Chung LO, Eiji FUJIWARA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of the IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems

巻, 号, ページ

pp. 263-270

出版年月

1993年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: