経済性を考慮した自己テスト性 m-out-of-n 符号検査回路の構成 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	経済性を考慮した自己テスト性 m-out-of-n 符号検査回路の構成
英文:

著者

和文:	内田雅貴, 藤原英二.
英文:	内田雅貴, 藤原英二.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	電子情報通信学会フォールトトレラントシステム研究会　技術報告
英文:

巻, 号, ページ

No. FTS91-1

出版年月

1991年

出版者

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会議名称

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開催地

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英文:

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