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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Structure of the In on Si(111)4x1 Surface Determined by Applying Direct Phasing Methods to Transmission Electron Diffraction Data
著者
和文:
C.Collazo-Davila, L.D.Marks, K.Nishii,
Y.Tanishiro
.
英文:
C.Collazo-Davila, L.D.Marks, K.Nishii,
Y.Tanishiro
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997)
巻, 号, ページ
pp. 1041-1042
出版年月
1997年
出版者
和文:
英文:
in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997)
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
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