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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Structure of the In on Si(111)4x1 Surface Determined by Applying Direct Phasing Methods to Transmission Electron Diffraction Data 
著者
和文: C.Collazo-Davila, L.D.Marks, K.Nishii, Y.Tanishiro.  
英文: C.Collazo-Davila, L.D.Marks, K.Nishii, Y.Tanishiro.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997) 
巻, 号, ページ         pp. 1041-1042
出版年月 1997年 
出版者
和文: 
英文:in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997) 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

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