FIBを用いたEDX分析可能な広範囲分解能電子顕微鏡（LA-HREM）用試料作製法の開発 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	FIBを用いたEDX分析可能な広範囲分解能電子顕微鏡（LA-HREM）用試料作製法の開発
英文:

著者

和文:	末松久幸, 岡村裕之, 山内尚雄, 有働公一, 田中康弘, 久恒邦博.
英文:	末松久幸, 岡村裕之, 山内尚雄, 有働公一, 田中康弘, 久恒邦博.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	日本電子顕微鏡学会第55回学術講演会発表要旨集
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 76

出版年月

1999年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.