Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Defects in SiO2 and Related Dielectric Materials: Science and Technology Oh.6 
著者
和文: H. Hosono, K. Kawamura.  
英文: H. Hosono, K. Kawamura.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Kluger 
巻, 号, ページ        
出版年月 2000年 
出版者
和文: 
英文:Kluger 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.