Electrical and Structural Characterizations of Cu(InGa)Se<sub>2</sub> Thin films Using Electrochemical Capacitance-Voltage Method adn Focused-Ion Beam Process

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Electrical and Structural Characterizations of Cu(InGa)Se₂ Thin films Using Electrochemical Capacitance-Voltage Method adn Focused-Ion Beam Process

著者

和文:	A. Shimizu, Akira YAMADA, Makoto KONAGAI.
英文:	A. Shimizu, Akira YAMADA, Makoto KONAGAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Jpn. J. Appl. Phys.

巻, 号, ページ

Vol. 39 No. 1 pp. 109-113

出版年月

2000年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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