Generalized Marching Test for Detecting Pattern Sensitive Faults in RAMs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Generalized Marching Test for Detecting Pattern Sensitive Faults in RAMs

著者

和文:	Masahiro HASHIMOTO, Eiji FUJIWARA.
英文:	Masahiro HASHIMOTO, Eiji FUJIWARA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	電子情報通信学会論文誌(E)
英文:	IEICE Transactions on Information and Systems

巻, 号, ページ

Vol. E76-D No. 7 pp. 809-816

出版年月

1993年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: