STM studies on reentrant RHEED oscillation observed during low temperature MBE growth of GaAs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	STM studies on reentrant RHEED oscillation observed during low temperature MBE growth of GaAs

著者

和文:	M. Tajima, A. Nagashima, J. Yoshino.
英文:	M. Tajima, A. Nagashima, J. Yoshino.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	20th Electronic materials symposium , Extended abstracts

巻, 号, ページ

pp. 127-128

出版年月

2001年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: