Reliability of SET Circuits Based on Eb/No-BER Characteristics

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Reliability of SET Circuits Based on Eb/No-BER Characteristics

著者

和文:	S. Shimano, K. Masu, K. Tsubouchi.
英文:	S. Shimano, K. Masu, K. Tsubouchi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	1998 International Symposium on Formation, Physics and Device Application of Quantum Dot Structures (QDS '98)

巻, 号, ページ

pp. 16

出版年月

1998年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: