New XAFS Technique Monitoring Weak V K alpha1 at 4952.2 eV in the Predominant Ti K beta1,3 at 4931.8 eV Applied to Industrial V-TiO2 Catalysts

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	New XAFS Technique Monitoring Weak V K alpha₁ at 4952.2 eV in the Predominant Ti K beta_1,3 at 4931.8 eV Applied to Industrial V-TiO₂ Catalysts

著者

和文:	Y. Izumi, F. Kiyotaki, D. Masih, K. Aika, H. Yoshitake, T. Sugihara, T. Tatsumi, Y. Tanizawa, T. Shido, Y. Iwasawa, N. Yagi, A. Vlaicu, S. Fukushima.
英文:	Y. Izumi, F. Kiyotaki, D. Masih, K. Aika, H. Yoshitake, T. Sugihara, T. Tatsumi, Y. Tanizawa, T. Shido, Y. Iwasawa, N. Yagi, A. Vlaicu, S. Fukushima.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Program and Abstracts of XAFS-12, Malmoe, Sweden

巻, 号, ページ

pp. 95

出版年月

2003年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: