Voltage Criterion for Electrostatic Detachment of a Microparticle from a Micromanipulated Probe

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Voltage Criterion for Electrostatic Detachment of a Microparticle from a Micromanipulated Probe

著者

和文:	Shigeki Saito, Hideo Himeno, Kunio Takahashi, Tadao Onzawa.
英文:	Shigeki Saito, Hideo Himeno, Kunio Takahashi, Tadao Onzawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	International Conference on Processing & Manufacturing of Advanced Materials

巻, 号, ページ

Vol. 426-432 pp. 2345-2350

出版年月

2003年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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