Average and reliability exponents in low-density parity check codes

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Average and reliability exponents in low-density parity check codes

著者

和文:	Nikos S Skantzos, Jort van Mourik, David Saad, Yoshiyuki Kabashima.
英文:	Nikos S Skantzos, Jort van Mourik, David Saad, Yoshiyuki Kabashima.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Physics A: Mathematical and General

巻, 号, ページ

Vol. 36 No. 43 pp. 11131

出版年月

2003年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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DOI