Numerical Foundation of Hot-Electron Diffraction Experiment Based on Ballistic Electron Emission Microscope

論文・著書情報

タイトル

和文:	弾道電子放出顕微鏡によるホットエレクトロン回折実験の数値解析―量子相反性成立の起源―
英文:	Numerical Foundation of Hot-Electron Diffraction Experiment Based on Ballistic Electron Emission Microscope

著者

和文:	町田信也.
英文:	NOBUYA MACHIDA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	電子情報通信学会技術報告
英文:	Technical Report of IEICE

巻, 号, ページ

Vol. ED2003-222 pp. 5

出版年月

2004年1月

出版者

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会議名称

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開催地

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