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論文・著書情報


タイトル
和文:デザインパターン検出のためのテストケース作成支援 
英文:Test Case Generation for Design Pattern Detection 
著者
和文: 坂本 良太, 林 晋平, 佐伯 元司.  
英文: Ryota Sakamoto, Shinpei Hayashi, Motoshi Saeki.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:電子情報通信学会技術研究報告 
英文:IEICE Technical Report 
巻, 号, ページ Vol. 106    No. 16    pp. 7-12
出版年月 2006年4月 
出版者
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会議名称
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開催地
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