Mesh Zoning Method for Electro-Thermal Analysis of Submicron Si MOSFET

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Mesh Zoning Method for Electro-Thermal Analysis of Submicron Si MOSFET

著者

和文:	Hatakeyama Tomoyuki, Fushinobu Kazuyoshi, Okazaki Ken.
英文:	Hatakeyama Tomoyuki, Fushinobu Kazuyoshi, Okazaki Ken.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Thermal Sci. Tech.

巻, 号, ページ

pp. *

出版年月

2006年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文:

DOI