The Complexity of Fault Testing for Reversible Circuits

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	The Complexity of Fault Testing for Reversible Circuits

著者

和文:	Shigeru Ito, 田湯智, 上野修一.
英文:	Shigeru Ito, Satoshi Tayu, Shuichi UENO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of the 2006 IEICE Society Conference

巻, 号, ページ

No. AS-1-1 pp. S-1 - S-2

出版年月

2006年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2006 IEICE Society Conference

開催地

和文:
英文:	Kanazawa Univ.