LaO<sub>X</sub>/Si界面組成遷移層の熱安定性

論文・著書情報

タイトル

和文:	LaO_X/Si界面組成遷移層の熱安定性
英文:

著者

和文:	野平博司, 松田　徹, 舘　喜一, 椎野泰洋, 宋　在烈, 黒木裕介, ン　ジンアン, パールハットアヘメト, 角嶋邦之, 筒井一生, 池永英司, 小林啓介, 岩井　洋, 服部健雄.
英文:	野平博司, 松田　徹, 舘　喜一, 椎野泰洋, 宋　在烈, 黒木裕介, ン　ジンアン, パールハットアヘメト, 角嶋邦之, 筒井一生, 池永英司, 小林啓介, 岩井　洋, 服部健雄.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	第53回応用物理学関係連合講演会予稿集
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 2 pp. 833

出版年月

2006年3月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:	第53回応用物理学関係連合講演会
英文:

開催地

和文:	東京
英文: