Evaluation of defect density using electron spin resonance for films fabricated from amorphous Si and those from polycrystalline Si by high-speed zone milting crystallization/re-crystallization for solar cells

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Evaluation of defect density using electron spin resonance for films fabricated from amorphous Si and those from polycrystalline Si by high-speed zone milting crystallization/re-crystallization for solar cells

著者

和文:	Shuhei Yokoyama, 伊原学, Chiaki Yokoyama, Tadaaki Ikoma, Koichi Izumi, Hirosi KOmiyama.
英文:	Shuhei Yokoyama, Manabu Ihara, Chiaki Yokoyama, Tadaaki Ikoma, Koichi Izumi, Hirosi KOmiyama.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

pp. ＊

出版年月

2002年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: