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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Parasitic Effects Depending on Shape of Spacer Region on FinFETs 
著者
和文: Y. Kobayashi, K.Tsutsui, K.Kakushima, V. Hariharan, V. R. Rao, P.Ahmet, H.Iwai.  
英文: Y. Kobayashi, K.Tsutsui, K.Kakushima, V. Hariharan, V. R. Rao, P.Ahmet, H.Iwai.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:The Electrochemical Society 
巻, 号, ページ Vol. 6    No. 4    pp. 83-87
出版年月 2007年5月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:ECS 211th Meeting 
開催地
和文: 
英文:Chicago, U.S.A. 
DOI https://doi.org/10.1149/1.2728844

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