Analysis of carrier injection process under trapped carrier condition in pentacene field effect transistor characteristics

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Analysis of carrier injection process under trapped carrier condition in pentacene field effect transistor characteristics

著者

和文:	Lim Eun, 間中孝彰, 田村亮祐, 岩本光正.
英文:	Eunju Lim, Takaaki Manaka, Ryosuke Tamura, Mitsumasa Iwamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 0

出版年月

2007年3月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	4th Japan-France Symposium on Molecular Materials : Electronics, Photonics, and Spintronics

開催地

和文:
英文:	Tokyo