状態識別XAFS（X線吸収微細構造）の原理と応用 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	状態識別XAFS（X線吸収微細構造）の原理と応用
英文:	Principle and the Applications of State-Sensitive XAFS (X-Ray Absorption Fine Structure)

著者

和文:	泉　康雄, 清瀧史貴.
英文:	泉　康雄, 清瀧史貴.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	表面
英文:	Hyomen (Surface)

巻, 号, ページ

Vol. 39 No. 7 pp. 276 - 283

出版年月

2001年

出版者

和文:	表面
英文:	Hyomen (Surface)

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.