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論文・著書情報


タイトル
和文:Error Control Coding for Semiconductor Memory Systems in the Space Radiation Environment 
英文:Error Control Coding for Semiconductor Memory Systems in the Space Radiation Environment 
著者
和文: Haruhiko Kaneko.  
英文: Haruhiko Kaneko.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:Proc. 2005 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 
英文:Proc. 2005 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 
巻, 号, ページ         pp. 93-101
出版年月 2005年10月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 
開催地
和文: 
英文:Monterey, California 

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