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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
ELECTRO-THERMAL ANALYSIS OF SUBMICRON Si MOSFET WITH ZONED MESH BASED ON SEMICONDUCTOR PHYSICS THEORY
著者
和文:
畠山 友行
,
伏信 一慶
,
岡崎 健
.
英文:
Tomoyuki Hatakeyama
,
Kazuyoshi Fushinobu
,
Ken Okazaki
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Proc. The ASME-JSME 2007 Thermal Engineering and Summer Heat Transfer Conference
巻, 号, ページ
pp. HT2007-32745
出版年月
2007年7月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
The ASME-JSME 2007 Thermal Engineering and Summer Heat Transfer Conference
開催地
和文:
英文:
Vancouver, BC, Canada
DOI
https://doi.org/10.1115/HT2007-32745
©2007
Tokyo Institute of Technology All rights reserved.