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論文・著書情報


タイトル
和文:Alキャップ層がW/La2O3/Si MOS構造の電気特性に及ぼす影響 
英文: 
著者
和文: 藤澤 宏樹, 舘 喜一, 角嶋 邦之, パールハット・アヘメト, 筒井 一生, 杉井 信之, 服部 健雄, 岩井 洋.  
英文: 藤澤 宏樹, Kiichi Tachi, Kuniyuki KAKUSHIMA, パールハット・アヘメト, KAZUO TSUTSUI, 杉井 信之, takeo hattori, HIROSHI IWAI.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:秋季第68回応用物理学会学術講演会予稿集 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 821
出版年月 2007年9月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:秋季第68回応用物理学会学術講演会 
英文: 
開催地
和文:北海度工業大学 
英文: 

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